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2015光學儀器與技術國際會議通知

2014-12-25 最新消息

　　2015光學儀器與技術國際會議(OIT2015)將于2015年05月17-19日在北京國際會議中心舉辦，突出以光電儀器與技術為核心，重點是光學系統與光電儀器、光通信、光電器件、激光、光電成像、檢測與計量技術、微納及太赫茲技術等為主體的專業會議。屆時會有超過400位中外學者、工程技術人員參會。

　　會議由中國儀器儀表學會(CIS)和SPIE共同主辦，雙方均為國內外有很強影響力的學術團體。CIS是中國儀器儀表、測量控制和自動化領域及相關技術的權威學術團體，它所創辦的多國儀器儀表學術會議和展覽(MICONEX)在國內外有很大的影響;OIT系列會議是儀器儀表學會中比較有影響力的國際學術會議，在所屬學術領域有較好的評價。

　　本次會議設光電系統與現代光電儀器、光通信與光信號處理、光電傳感與應用、先進激光器及其應用、光電成像與圖像處理技術、光電測量技術與系統、微納光子學及其制備工藝、THz技術與應用等八大研討主題，現開始征集稿件。

　　征文要求： 1. 會議接收未在國內外學術刊物上公開發表過的原創性論文。 2. 摘要及全文均通過會議網站進行提交，不接受郵箱及信件投稿。3. 摘要及全文均要求用英文。

　　論文集：所有錄用的論文由SPIE集結成卷出版，并由EI全文檢索。

　　優秀學生論文評選：會議將在會議論文中選出5%優秀學生論文，頒發優秀論文證書及獎金，以資鼓勵。

　　摘要提交方式：

　　1. 登錄OIT2015網站。 2. 進入Call for paper，點擊所選專題，點擊Submit Abstract，接入SPIE投稿網站。3. 輸入您的SPIE賬號(如果沒有賬號，請創建一個新賬號)與密碼，按提示一步步操作即可完成摘要提交。4. 摘要沒有格式方面的要求，摘要不要太長也不要太簡單，一般控制在500英文字以內。

　　此外，為更好地為與會學者及相關技術從業者服務，為國內外的廣大科技工作者和專家提供一個交流的平臺，本次會議特附設企業展示會，歡迎企業前來宣傳、展示新技術、新產品。

　　布展時間：2015年5月17日。

　　展覽時間：2015年5月18-19日。

　　會議對參加展示的企業提供會議網站鏈接。

　　本次展覽將設在會議中心三層大廳，共設20個展位，展區與學術報告廳同屬一層，方便與會者與參展企業的溝通，見附平面圖。

　　一、展位收費標準